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HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀
產(chǎn)品價(jià)格：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-10-17
產(chǎn)品型號(hào)：
訪問量：739
HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀的詳細(xì)資料：
HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀采用高分辨率光機(jī)平臺(tái)，配置先進(jìn)的線陣探測(cè)器，是一款結(jié)構(gòu)緊湊、攜帶方便的微型光纖光譜儀。
HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀的探測(cè)器響應(yīng)范圍為315-1100nm，用戶可以選擇不同的光柵配置，得到不同的光學(xué)分辨率和光譜響應(yīng)范圍，以滿足不同的應(yīng)用需求。另外針對(duì)其它波段300-750nm/380-900nm/800-1000nm等，可以提供OEM定制。
性能特點(diǎn)：
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結(jié)構(gòu)緊湊，便于攜帶與系統(tǒng)集成
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交叉非對(duì)稱C-T光路結(jié)構(gòu)，干涉濾光片消二級(jí)衍射，有效抑制雜散光
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315～1100nm寬光譜響應(yīng)均衡
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高靈敏響應(yīng)，實(shí)現(xiàn)弱光探測(cè)
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多種狹縫、透鏡、光柵可選，搭配靈活
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USB通信，即插即用，高速傳輸
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支持二次開發(fā)，支持OEM集成
應(yīng)用領(lǐng)域：
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激光器中心波長測(cè)量
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透射/反射測(cè)量
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輻射測(cè)量
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吸光度測(cè)量
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薄膜測(cè)量
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顏色測(cè)量
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熒光測(cè)量
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激光光譜測(cè)量
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太陽光譜測(cè)量
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LIBS光譜測(cè)量
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生化、醫(yī)學(xué)分析
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農(nóng)業(yè)與食品檢測(cè)
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水質(zhì)分析檢測(cè)
| 探測(cè)器 | TOSHIBA TCD1304線陣CCD |
|---|---|
| 波長范圍 | 700nm-1100nm |
| 工作溫度 | 5℃ -35℃（推薦溫度25℃） |
| 像素 | 3648像素，每個(gè)像元8µm ×200 µm |
| 狹縫 | 5μm |
| 光學(xué)分辨率 | ~0.3nm |
| 信噪比 | 300:1全光譜 |
| 線性度 | >99% |
| 雜散光 | <0.1% (600nm, 435nm) |
| A/D | 16 bit |
| 積分時(shí)間 | 4ms - 10s |
| 動(dòng)態(tài)范圍 | 300:1 |
| 功耗 | 250 mA, 5 VDC |
| 通信接口 | USB2.0（12Mbps） RS232（115200bps） |
| 外觸發(fā)模式 | 軟件觸發(fā)，硬件觸發(fā)，同步觸發(fā) |
| 光纖接口 | SMA905 |
| 電源 | USB 或 5VDC |
| 尺寸 | 140mm x 110mm x 46mm |
| 儀器重量 | 0.7 Kg |
| 微軟操作系統(tǒng) | Win XP, Win7,Win8, Win10 |
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